用 371B 提供高電壓和電流源（高達(dá) 3,000 V 或 400 A）
內(nèi)置光標(biāo)測量 - 點(diǎn)、窗口和功能線
開爾文感應(yīng)測量
掃描測量模式
波形比較和平均
完全可編程
1.44 MB 軟盤存儲設(shè)置和曲線位圖
使用第三方打印機(jī)直接硬拷貝
半導(dǎo)體的參數(shù)表征
故障分析
數(shù)據(jù)表生成
制造測試
過程監(jiān)控和質(zhì)量控制
即將到來的檢查
組件匹配
泰克 370B 提供高達(dá) 20 A/2,000 V 的源電流能力以及 1 pA 和 50 micro V 的測量分辨率。370B 對集成電路、晶體管、晶閘管、二極管、SCR、MOSFET、電光元件、太陽能電池、固態(tài)繼電器和其他半導(dǎo)體器件進(jìn)行直流參數(shù)表征。它具有按鈕源和測量配置，因此很容易從一個測試更改為下一個測試。