產(chǎn)品功能和特點(diǎn):
1) 孔銅測(cè)試和面銅鍍層厚度測(cè)試一體式設(shè)計(jì),一機(jī)多用,高。
2) 孔銅測(cè)試采用電渦流原理實(shí)現(xiàn)孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確的測(cè)量,快速無(wú)損的測(cè)量孔內(nèi)鍍層厚度。
3) 面銅測(cè)試采用微電阻方法來(lái)達(dá)到對(duì)表面銅準(zhǔn)確的測(cè)量,無(wú)需破壞樣品。
4) 10.1寸觸控式彩色屏幕,操作界面輕松上手,量測(cè)與統(tǒng)計(jì)一目了然。
5) 孔銅面銅測(cè)試時(shí)間均有溫度補(bǔ)償功能,所測(cè)數(shù)據(jù)穩(wěn)定性高。
6) 內(nèi)置工業(yè)控制PC電腦,無(wú)限制(硬盤儲(chǔ)存大小決定)應(yīng)用程序和儲(chǔ)存數(shù)據(jù)要求。
7) 孔銅采用進(jìn)口測(cè)試探頭,并且可以自用更換。
8) 面銅采用可更換探針設(shè)計(jì),單獨(dú)更換探針,更節(jié)省成本。
9) 面銅探針有多種間距可選,根據(jù)測(cè)試面積大小,可以進(jìn)行選擇更換。
10) 全電腦軟件界面操作,孔銅和面銅測(cè)試快速切換。
11) 具有非常高的可擴(kuò)展性,可以直接進(jìn)行擴(kuò)展MES連接,自定義報(bào)表統(tǒng)計(jì),打印,保存等。
12) 測(cè)試頭采用快速插拔式接頭設(shè)計(jì),更換簡(jiǎn)單易操作。
13) 出廠預(yù)設(shè)校準(zhǔn)程序,并且可以獨(dú)立設(shè)定孔銅校準(zhǔn)程序和面銅校準(zhǔn)程序。
14) 可以設(shè)定校準(zhǔn)因子,補(bǔ)償,銅的電導(dǎo)率等參數(shù),以符合產(chǎn)品規(guī)格與標(biāo)準(zhǔn)。
15) 測(cè)量單位可以公制,英制進(jìn)行轉(zhuǎn)換。
16) 中英文操作界面,方便使用。
17) 儀器采用輕質(zhì)鋁合金全金屬外殼,并進(jìn)行陽(yáng)極氧化處理,堅(jiān)固耐腐蝕。
顯示屏 | 高亮度10.1寸彩色IPS-觸摸屏 |
單 位 | 可切換公制(um)及英制(mils)單位選擇。 |
連接口 | VGA接口,RJ-45千兆網(wǎng)絡(luò)接口,2*USB2.0接口,孔銅探頭接口,面銅探頭接口 |
統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù) | 量測(cè)點(diǎn)數(shù)、平均值、極差、*值、*低值等。 |
儲(chǔ)存量 | 根據(jù)硬盤大小,可以無(wú)限制儲(chǔ)存程序和測(cè)試記錄文件。 |
測(cè)試模式 | 可選擇單次、連續(xù)測(cè)量模式。 |
面銅準(zhǔn)確度 | 準(zhǔn)確度:5%,參考標(biāo)準(zhǔn)片。 |
面銅測(cè)試范圍 | 0.2-500μm (0.008-19.69mil)。 |
面銅校準(zhǔn)方式 | 兩點(diǎn)校準(zhǔn)或者多點(diǎn)校準(zhǔn),不需要切換測(cè)試檔案,單個(gè)程序可以全量程覆蓋。 |
面銅探頭 | 采用微電阻測(cè)試技術(shù)。 |
孔銅準(zhǔn)確度 | 5%,參考標(biāo)準(zhǔn)片。 |
孔銅分辨率 | 0.01 mils (0.25 μm)電渦流:遵守ASTM E37696 標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定。 |
孔銅度 | 1.2 mil 時(shí),1.0% (典型情況下)。 |
孔銅測(cè)量厚度范圍 | 1--105μm (0.04-- 4.13 mils)。 |
孔徑范圍 | Φ0.899 mm--Φ3.0 mm,孔*小直徑Φ35 mils (Φ899 μm)。 |
校準(zhǔn)方式 | 單點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)片校正。 |
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Bamtone T70適用于印制線路板孔內(nèi)及表面銅層厚度的非破壞性測(cè)量,本儀器擁有非常高的多功能性,它集快速、簡(jiǎn)單易用、質(zhì)量可靠等優(yōu)勢(shì)于一體,同時(shí)它也是專為測(cè)量剛性及柔性、單層、雙層或多層印刷電路板上的電鍍銅測(cè)量而設(shè)計(jì)。