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介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀 型號(hào)AS2855-A庫(kù)號(hào)D408237

發(fā)布時(shí)間:2026/04/27 14:22:02 發(fā)布廠商:東方化玻(北京)科技有限公司 >> 進(jìn)入該公司展臺(tái)
介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀 型號(hào):AS2855-A

庫(kù)號(hào):D408237  


AS2855高頻絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)由S916測(cè)試裝置(夾具)、QBG-3E型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件(裝入QBG-3E的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動(dòng)測(cè)量的解決方案。本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器組成,平板電容器一般用來夾被測(cè)樣品,配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。使用QBG-3E數(shù)字Q表具有自動(dòng)計(jì)算介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗(tanδ)。
AS2855介電常數(shù)/介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)組成
功能名稱: QBG-3E
信號(hào)源范圍DDS數(shù)字合成信號(hào) 10KHZ-70MHz
信號(hào)源頻率覆蓋比 7000:1
信號(hào)源頻率精度 6位數(shù) 3×10-5 ±1個(gè)
Q測(cè)量范圍 1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程
Q分辨率 4位數(shù),分辨率0.1
Q測(cè)量工作 <5%
電感測(cè)量范圍 4位數(shù),分辨率0.1nH 1nH-8.4H , 分辨率0.1nH
電感測(cè)量 <5%
調(diào)諧電容 主電容30-550pF
電容直接測(cè)量范圍 1pF~2.5uF
調(diào)諧電容
分辨率 ±1 pF或<1% 0.1pF  
諧振點(diǎn)搜索 自動(dòng)掃描
Q合格預(yù)置范圍 5-1000聲光提示
Q量程切換 自動(dòng)/手動(dòng)
LCD顯示參數(shù) F,L,C,Q,Lt,Ct,tn等
自身殘余電感和測(cè)試引線電感的
自動(dòng)扣除功能() 有
大電容值直接測(cè)量顯示功能() 測(cè)量值可達(dá)2.5uF
介質(zhì)損耗系數(shù) 精度 萬分之五
介電常數(shù) 精度 千分
材料測(cè)試厚度 0.1mm-10mm
USB接口 支持
2.S916(數(shù)顯)介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測(cè)試裝置:
固體:材料測(cè)量直徑Φ38mm 可選;厚度可調(diào)小于14mm
液體:測(cè)量極片直徑 Φ38mm; 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm(選配)
     
 3.LKI-1電感組 
電感No 電感量 準(zhǔn)確度% Q值≥ 分布電容約略值 諧振頻率范圍 MHz 適合介電常數(shù)測(cè)試頻率
AS2855-A
1 0.1μH ±0.05μH 200 5pF 20~70 50MHz
2 0.5μH ±0.05μH 200 5pF 10~37 15MHz
3 2.5μH ±5% 200 5pF 4.6~17.4 10MHz
4 10μH ±5% 200 6pF 2.3~8.6 5MHz
5 50μH ±5% 200 6pF 1~3.75 1.5MHz
6 115μH ±5% 200 6pF 0.75~2.64 1MHz
7 1mH ±5% 150 8pF 0.23~0.84 0.5MHz
8 5mH ±5% 130 8pF 0.1~0.33 0.25MHz
9 14mH ±5% 90 8pF 0.072~0.26 0.1MHz

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
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