7.5L16-0.5-9線性相控陣探頭|啟航檢測科技（上海）有限公司現貨優(yōu)惠價供應，還可以根據客戶的需求定制，來電洽談合作?。?br />

工業(yè)相控陣探頭廣泛應用與航空航天，石油與天然氣，化工，電力，管道運輸等領域，配合相關的儀器設備能夠實現聲束的角度偏轉及大范圍的掃查，覆蓋常規(guī)檢測方案難以到達的地方，進行各種各樣的檢測。探頭采用復合材料制作，頻率范圍為1 MHz到10 MHz，晶片的數量范圍為10到256，被動孔徑尺寸從6mm到20mm以上，匹配介質包括各種楔塊以及水等，同時提供一維陣列、二維陣列、組合式陣列等各種實現方式。根據客戶需求，還可以對探頭參數及外形等進行定制設計，以適應客戶的各種特殊應用需要。

線性相控陣探頭

2.0L32-1.0-10線性相控陣探頭
2.5L8-1.0-9線性相控陣探頭
2.5L16-1.0-10線性相控陣探頭
2.5L32-1.0-10線性相控陣探頭
4.0L16-0.5-9線性相控陣探頭
5.0L16-0.5-9線性相控陣探頭
5.0L32-0.5-10線性相控陣探頭
5.0L64-1.0-10線性相控陣探頭

5.0L32-0.6-10線性相控陣探頭
5.0L16-0.6-10線性相控陣探頭
7.5L16-0.5-9線性相控陣探頭
7.5L32-0.5-10線性相控陣探頭
7.5L64-1.0-10線性相控陣探頭
7.5L64-0.5-7線性相控陣探頭
7.5L128-0.5-7線性相控陣探頭
7.5L128-0.5-10線性相控陣探頭

新產品相控陣探頭

5.0L16-0.6-10-M10相控陣探頭

10.0L32-0.3-7-M10相控陣探頭

5.0L32-0.6-10-M11相控陣探頭

5.0L64-0.6-10-M12相控陣探頭

5.0L32-0.6-10-M31相控陣探頭

5.0L32-1.0-10-M32相控陣探頭

5.0L64-0.5-10-M32相控陣探頭

SyncScan16PTPLUS(裸機)
SyncScan 32P(裸機)
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SUPOR 16P

A型 /B型便攜相控陣試塊|啟航檢測科技（上海）有限公司

A型 /B型便攜相控陣試塊 具有一系列不同位置、不同角度、不同尺寸的規(guī)則通孔和官孔以模擬缺陷，可用來校準相控陣超聲探傷儀扇掃成像橫向（縱向）分辨力、短缺陷分辨力、扇掃角度分辨力等。

便攜相控陣試塊具有一系列不同位置、不同角度、不同尺寸的規(guī)則通孔和官孔以模擬缺陷，可用來校準相控陣超聲探傷儀扇掃成像橫向（縱向）分辨力、短缺陷分辨力、扇掃角度分辨力等。按照不同功能分 為A型便攜式相控陣試塊和B型便攜式相控陣試塊，具體結構及參數如下。

A型便攜式相控陣試塊

B型便攜式相控陣試塊

超聲相控陣B型試塊是一種具有特定結構和缺陷的試塊，用于超聲相控陣檢測系統(tǒng)中，以模擬實際工件中的缺陷情況，從而校準檢測設備的性能、驗證檢測工藝的有效性，并評估檢測結果的準確性。

功能作用

主要用于測試成像橫向和縱向幾何尺寸測量誤差、扇掃角度范圍誤差和扇掃角度分辨力。

類型

根據用途和標準不同，可分為校準試塊、對比試塊和模擬試塊等。具體如下：

• 校準試塊：通常具有一系列不同位置、不同角度、不同尺寸的規(guī)則通孔和盲孔，用于校準超聲相控陣檢測設備的聲速、楔塊延時、ACG、TCG等參數。

• 對比試塊（參考試塊）：具有與待檢測工件相似的結構和材料特性，并包含一系列已知的缺陷，用于與待檢測工件進行對比，評估檢測結果的準確性和可靠性。

• 模擬試塊（演示試塊）：用于模擬實際檢測過程中的復雜情況，如焊縫坡口成像、焊接自然缺欠等，以驗證檢測工藝的有效性和評估檢測人員的技能水平。

結構特點

一般來說，B型試塊上有不同區(qū)域，如B-1區(qū)、B-2區(qū)、B-3區(qū)等，每個區(qū)域有不同的結構設計，例如B-1區(qū)有一系列通孔用于測量成像橫向幾何尺寸測量誤差等。

應用領域

在無損檢測領域具有廣泛的應用，特別是在核工業(yè)、航空工業(yè)等對檢測精度和可靠性要求較高的領域。

相關標準

通常遵循國際或國內的相關標準，如ISO2400、ISO19675、GB/T32563以及ASME、ASTM E2491-08等標準。

使用方法

• 成像橫向幾何尺寸測量誤差：將探頭放置在試塊B中B-1區(qū)一系列通孔的左端面及B-2區(qū)一系列通孔的下端面，調節(jié)設備實現線性掃查或扇形掃查得到清晰圖像，測量不同孔圖像之間的橫向距離測量值，計算與標稱值的差值。

• 成像縱向幾何尺寸測量誤差：將探頭放置在試塊B中B-1區(qū)一系列通孔下端面，調節(jié)設備實現線性掃查或扇形掃查得到清晰圖像，測量不同孔圖像之間的縱向距離測量值，計算與標稱值的差值。

• 扇掃角度范圍測量誤差：將探頭放置在試塊B中B-3區(qū)一系列通孔的上端面，設定不同的扇形掃查角度范圍，調節(jié)設備實現扇形掃查得到清晰的圖像，數出缺陷圖像的數目并計算實際掃查角度。

• 扇掃角度分辨力：將探頭放置在試塊B中B-3區(qū)一系列的上端面，調節(jié)設備實現扇形掃查，圖像中所能分開的*小角度間距即為該工作狀態(tài)下的扇掃角度分辨力。

啟航檢測科技（上海）有限公司是一家*從事高端無損檢測設備的制造和代理公司，主營超聲和渦流檢測系統(tǒng)、大型的磁粉檢測設備、超聲波檢測設備、磁粉檢測設備、測厚設備及周邊配套探頭、超聲波相控陣、超聲TOFD探傷儀、超聲波相控陣探頭以及數字成像平板等*設備，有奧林巴斯NDT、美國磁通、美國sherwen、汕、新美達、美國GE等多家產品。長期以來，公司堅持走科技創(chuàng)新之路，不斷拓展產品線及產品技術，加大應用技術人員投入。

公司提供的無損檢測儀器設備包括工業(yè)X光機、工業(yè)CT、CR、DR、工業(yè)洗片機、超聲波探傷儀、超聲波相控陣、超聲波測厚儀、超聲波探頭、渦流探頭、渦流陣列探傷儀、管材的無損檢測解決方案、渦流陣列探傷儀、超聲導波、超聲TOFD探傷儀、渦流陣列、磁粉探傷機、著色滲透劑、熒光滲透線、工業(yè)內窺鏡、大型復合材料超聲波自動化檢測系統(tǒng)、大型超聲波板材檢測系統(tǒng)、大型超聲波管材檢測系統(tǒng)、大型壓力容器超聲波檢測系統(tǒng)、汽車點焊超聲波成像分析儀和其它實驗室儀器。

超聲波探傷儀、相控陣探傷儀、磁粉探傷儀、膠片、探傷劑、耦合劑、試塊、洗片槽、膠片機、黑光燈、紫外線燈、相控陣探頭、單晶直探頭、雙晶直探頭、單晶斜探頭、雙晶斜探頭、水浸探頭、保護膜探頭、表面波探頭、絕緣子超聲波探頭、爬坡探頭、TOFD探頭、楔塊探頭、楔塊、導波探頭、磁性探頭、單晶連接線、雙晶連接線、反差增強劑、密度計、觀片燈、洗片夾、拉環(huán)磁鋼、鉛字、射線機、射線燈、個人劑量報警儀、輻射儀、環(huán)境輻射儀、黑油磁懸液、黑水磁懸液、紅油磁懸液、紅水磁懸液、紅磁膏、黑磁膏、紅磁粉、黑磁粉、噴壺、提升力試塊、梨形測定管、直型測定管、消泡劑、防銹劑、分散劑、磁場強度計、白光照度計、紫外照度計、暗室紅燈、三色燈、顯影粉、定影粉、顯影液、定影液、暗袋、增感屏、防護背心、鉛衣、像質計、無損檢測配件、

長期以來，依托高素質的技術人員和銷售隊伍，本著誠信守法，客戶*的經營原則，以良好的信譽、豐富的經驗、周到的服務，為客戶提供了全方位的檢測設備及技術解決方案，贏得了國內外廣大用戶的信賴和好評。我們提供的設備、系統(tǒng)及方案應用于的各種*工業(yè)領域，特別應用于航空航天、汽車制造、石油化工、船舶制造、冶金、鐵路、核工業(yè)及電力、特檢、高校及研究機構等。

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